ROUNDUP/Aktien New York: Zinsangst hinterlässt weiter Spuren
NEW YORK (dpa-AFX) - Der US-Aktienmarkt steht auch vor dem Wochenende weiter unter dem Eindruck eines sich abzeichnenden größeren Zinsanstiegs. US-Notenbankchef Jerome Powell hatte am Vortag über einen großen Zinsschritt auf der nächsten Sitzung der Fed Anfang Mai gesprochen und damit die gute Marktstimmung kippen lassen.
Im frühen Freitagshandel weitete der Leitindex Dow Jones Industrial seine Vortagesverluste nun um 0,96 Prozent auf 34 460 Punkte aus, womit er auf Wochensicht nur wenige Zähler dazu gewinnen würde. Der marktbreite S&P 500 sank am Freitag in der ersten Stunde nach dem Start um 0,58 Prozent auf 4368 Zähler. Ein Plus von 0,10 Prozent auf 13 735 Punkte verbuchte der technologielastige Nasdaq 100 , der am Vortag besonders schwach war und dessen Wochenbilanz aktuell negativ ist.
Schlusslicht im Dow waren die Aktien von Verizon mit einem Minus von mehr als fünf Prozent, nachdem der Telekomkonzern angesichts eines harschen Wettbewerbs für das laufende Jahr vorsichtigere Erwartungen als bisher formuliert hatte. Im ersten Quartal musste das Unternehmen zudem unter dem Strich den Verlust von 292 000 Mobilfunk-Vertragskunden verkraften. Konkurrent AT&T hatte hingegen am Vortag ein deutliches Plus von 691 000 neuen Verträgen nach Abzug von Kündigungen gemeldet.
Die Papiere von American Express gaben nach Quartalszahlen um 1,3 Prozent nach. Angesichts hoher Ausgaben des Finanzkonzerns ging der Gewinn zurück, wenngleich er die Markterwartungen übertraf.
Die Sorgen um wirtschaftliche Folgen des russischen Krieges in der Ukraine schlugen auf das Werbegeschäft der Foto-App Snapchat durch. Das vergangene Quartal habe das US-Unternehmen vor größere Herausforderungen gestellt als erwartet, räumte der Chef der Mutterfirma Snap , Evan Spiegel, ein. Stark schwankend, legten deren Anteile zuletzt allerdings um 4,5 Prozent zu.
Der Ölfelddienstleiter Schlumberger konnte die Anleger mit seinem Zwischenbericht überzeugen, die Aktien gewannen fast sechs Prozent./ajx/he
